红外测温仪，红外热成像滤光片，硅片

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红外测温仪，红外热成像滤光片，硅片

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公　司：深圳市新兆光电技术有限公司

发布时间：2021年07月13日

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谭玉君女士 (业务经理)

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公司主页：	http://xzgd207.qy6.com.cn(加入收藏)

详细说明

品牌：XZOP
材质：硅
光洁度：60/40或者40/20
形状：方/圆/异性
标准：美军标
简介：硅窗口可分为镀膜和不镀膜两种，根据客户的要求加工，它适合用于1.2-8μm区域的近红外波段。因为硅材料具有密度小的特点（其密度是锗材料或硒化锌材料的一半），在一些对重量要求敏感的场合尤为适用，特别在3-5um波段的应用。硅的努氏硬度为1150，比锗硬，没有锗易碎。然而，由于它在9um处有强的吸收带，因此并不适合用于二氧化碳激光器的透射应用。

产品详情：
硅(Si)单晶是一种化学惰性材料,硬度高,不溶于水.它在1-7μm波段具有很好的透光性能, 同时它在远红外波段300-300μm也具有很好的透光性能,这是其它光红外材料所不具有的特点。硅(Si)单晶通常用于3-5μm中波红外光学窗口和光学滤光片的基片.由于该材料导热性能好, 密度低,也是制作激光反射镜或红外测温及红外光学镜片的常用材料，产品可镀膜，也可以不镀膜。

应用领域：
红外测温仪，红外热像仪，红外镜头等。

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