日本TESPRO先进探针半导体测试用无磁性双头针

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日本TESPRO先进探针半导体测试用无磁性双头针

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公　司：青岛市平山技研国际贸易有限公司

发布时间：2020年04月24日

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详细说明

半导体测试用无磁性双头针
规格一览表
品名

内管直径
（mm）
最小间距
（mm）弹力(gf)＠推荐行程
（mm）全长
（mm）内管长度
（mm） DUT侧针轴长度
（mm）
NMDW-026H/R-01 0.26 0.35
13.0@0.50
5.70
4.00
1.10
NMDW-030A/A-01 0.30 0.40 20.0@0.65 8.10 6.50 1.10
NMDW-030H/A-01
0.30 0.40 20.0@0.65 8.10 6.50 1.10
NMDW-040CAH/A-01N 0.40 0.50 18.0@0.75 5.70 4.00 1.10
NMDW-040AR/R-01 0.40 0.50 20.0@0.75 5.70 4.00 1.10
※规格变动不另行通知

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